基于InfinityXF™探针的这款创新的同轴晶圆级测试解决方案，专为满足半导体器件在高频范围内的精确测试需求而设计。它基于FormFactor成熟的Infinity平台，与是德科技PNA-X测试系统和250GHz同轴模块无缝协作，单次扫描即可覆盖直流至250GHz宽频带，大幅简化高频测量流程。

该方案核心优势包括：提供GSG、GSGSG等多种拓扑结构，支持50µm至150µm间距；超紧凑设计有效降低插入损耗和回波损耗；铑金针尖确保长期稳定接触，并支持-40°C至175°C环境工作。同时，它具备自动化就绪能力，可搭配自动射频测量助手实现24小时无人值守测试。

此方案避免了同轴与波导探针混用的复杂性，显著缩短设置时间，提供更快的测量速度、更高可重复性和更低的S参数不确定度。适用于高速数字通信、器件特性分析、谐波测量等领域，助力下一代无线系统及高速数字链路的研发与生产。

和创联合科技提供全方位系统集成，整合全球领先仪表与探针台，并开发定制测试软件，支持客制化界面、全自动测量及数据二次处理，实现从硬件控制到结果分析的完整流程，兼顾卓越射频性能、量产稳定性与研发效率。