关于我们

和创联合科技(北京)有限公司

我们的理念是让测量更精确、让创新更具价值、永远在路上

致力于给客户提供最佳电子测量方案

国家级高新技术企业

全国共有6个办事处

超过一半以上员工是技术专家/工程师

2011

和创联合公司成立

32

知识产权

800

累计服务客户

3000

累计交付项目

专业认证

硅光在片自动打标系统
硅光在片自动打标系统
硅光全自动量产在片测试系统
硅光全自动量产在片测试系统
硅光全参数研发在片测试系统
硅光全参数研发在片测试系统
硅光大批量数据智能管理分析系统
硅光大批量数据智能管理分析系统
拱形法材料参数测试系统
拱形法材料参数测试系统
一种固体材料微波频段使用波导装置的电磁测量夹具
一种固体材料微波频段使用波导装置的电磁测量夹具
一种平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测量夹具
一种平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测量夹具
一种晶圆高压功率器件测试时的自动化防打火装置
一种晶圆高压功率器件测试时的自动化防打火装置
阻抗测试系统
阻抗测试系统
自由空间法材料数测试系统V1.0
自由空间法材料数测试系统V1.0
一种电路板电参数性能评估测试设备
一种电路板电参数性能评估测试设备
谐振腔法材料测试系统V1.0
谐振腔法材料测试系统V1.0
无源器件参数测试系统V1.0
无源器件参数测试系统V1.0
微扰法材料参数测试系统V1.0
微扰法材料参数测试系统V1.0
一种真空及气体模拟环境测试腔
一种真空及气体模拟环境测试腔
射频器件参数测试系统V1.0
射频器件参数测试系统V1.0
晶圆自动测试系统
晶圆自动测试系统
晶圆可靠性参数测试系统V1.0
晶圆可靠性参数测试系统V1.0
激光干涉仪精密位移参数测试系统
激光干涉仪精密位移参数测试系统
毫米波材料测试系统V1.0
毫米波材料测试系统V1.0
硅光芯片直流光谱频响特性参数自动测试系统
硅光芯片直流光谱频响特性参数自动测试系统
光电探测器PD全参数自动测试系统
光电探测器PD全参数自动测试系统
光电器件参数测试系统V1.0
光电器件参数测试系统V1.0
高速印制电路板阻抗参数全自动测试设备
高速印制电路板阻抗参数全自动测试设备
高速电路板阻抗损耗参数测试系统V1.0
高速电路板阻抗损耗参数测试系统V1.0
高低温波导材料参数测试系统V1.0
高低温波导材料参数测试系统V1.0
多引脚器件产线测试系统
多引脚器件产线测试系统
电路板信号完整性测试系统V1.0
电路板信号完整性测试系统V1.0
低温磁场下电特性表征系统
低温磁场下电特性表征系统
低损材料介电损耗测试系统
低损材料介电损耗测试系统
带状线法材料测试系统
带状线法材料测试系统
大功率器件静态参数自动测试系统
大功率器件静态参数自动测试系统
大功率器件动态参数测试系统软件V1.0
大功率器件动态参数测试系统软件V1.0
传输线法材料测试系统V1.0
传输线法材料测试系统V1.0
测试数据智能统计分析系统
测试数据智能统计分析系统
测试设备状态在线监测系统
测试设备状态在线监测系统
变温介普材料测试系统V1.0
变温介普材料测试系统V1.0
5G元器件模型库提取系统软件
5G元器件模型库提取系统软件

技术优势

我们为您提供敏捷集成/精确测量/智慧分析/材料全栈

敏捷系统集成
请输入文本内容

12年仪表设备集成经验,测量触手可及


精确测量
请输入文本内容

多名测量专家/工程师为您精确表征保驾护航


智慧分析
请输入文本内容

独立软件研发团队,数百个仪器/设备模块化智慧控制,智慧分析数据


材料全栈
请输入文本内容

独立研发团队打造,业内领先测量产品,提供材料测试服务


技术驱动,精确测量,智慧分析

产品中心与解决方案

为客户提供更优质的产品和更完善的解决方案

新闻资讯

News and information

公司新闻
行业动态

关注我们

在线咨询

微信公众号

哔哩哔哩

知乎

联系方式

总机:010-82207155

传真:010-82207155-8001 邮箱:info@hisuntest.com

北京总部:北京市海淀区中关村东路18号财智大厦A座1612

北京研发中心:北京市海淀区中关村东路18号财智大厦A座1603

深圳研发中心:深圳市宝安区西乡街道固戍二路一方天地互联网产业园 A栋 326 室

分支机构:香港 南京 上海 重庆 西安 长春

Copyright © 2023 和创联合科技(北京)有限公司All Rights Reserved