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以被测介质基片与良金属导体和薄带可构成典型的带状传输线,一段两端开路的带状传输线具有谐振电路的特性,通过该方法可用于测量带状线条件下电路板基片的相对介电常数和损耗正切,并通过求解多个谐振频点和Q值的变化量可得到材料的复介电常数。
通过大量的试验验证,和创科技推出了MTF-6000系列带状线法产品,通过智能软件MTS-6000自动控制VNA读取参数,并自动计算出Dk和Df值,尤其片状低损材料的测量,这种测量技术具有操作相对简单、测量精度高、宽带、应用范围广等优点, 尤其适合于低损耗介质的测量。
l宽频范围至40GHz
l轻松加压至3kN
l一键即可实现多个频点测试结果
频率范围:1~40 GHz
测量参数:εr'(Dk),tan δε(Df)参数
测量精度:Δεr'/εr’≤ 3%
Δtan/δε≤ 12% tan δε+2×10-4
温度范围:支持高低温范围-45~175 ℃
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