低频同轴屏蔽效能测试装置
低频同轴屏蔽效能测试装置
低频同轴屏蔽效能测试装置
低频同轴屏蔽效能测试装置

在计算机、手机、平板电脑等设备中,电磁屏蔽材料用于防止内部电路之间的电磁干扰。例如,手机的电路板周围会有一层薄薄的屏蔽罩,它可以防止射频电路产生的高频信号干扰其他数字电路或者模拟电路的正常工作,同时也能阻止外部的电磁信号(如其他无线设备的信号或者环境中的电磁噪声)对手机内部信号处理的干扰。

在通信基站、光纤通信设备中,电磁屏蔽材料用于保障通信信号的质量。基站中的发射和接收设备周围使用电磁屏蔽材料,可以减少设备之间的相互干扰,提高信号传输的效率和稳定性。

在核磁共振(MRI)的医疗设备中,周围需要良好的电磁屏蔽。因为MRI设备本身会产生很强的磁场,如果不进行屏蔽,这个磁场会对周围的其他医疗设备(如心电图机等)产生干扰,同时也能防止外界的电磁干扰影响MRI设备的成像质量。

本方法基于ASTM D4935(D4935-18为2018年最新的修订版本),基于电磁场理论,通过测量MUT对入射电磁波的衰减来评估其屏蔽效能,利用特定规格的样品支架,确保电磁波以横电磁模式(TEM)传播,利用同轴线作为横电磁波的传输装置,对平板型、薄膜型材料进行表征,该方法将被测材料(MUT)安装在断开的同轴线中间,通过测量参考试样、负载试样通过公式计算得到MUT的SE值。

  • 产品特点
  • 主要参数

宽频范围,10MHz~10GHz

超低插入损耗

宽动态范围

驻波比

10MHz~1.5GHz≤1.15

1GHz~3GHz≤1.2

3GHz~8GHz≤1.25

8GHz~10GHz≤1.4

特性阻抗:50±0.5Ω

测量参数:MUT SE值

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