移动终端、电信设备、计算机外设等高端电子产品的功能越来越强，它们的尺寸和重量却在不断缩减，这只有通过元器件和系统基底的集成化和小型化才能得以实现。

无源器件变得越来越小，这对制造商而言无疑是更大的挑战，国内部分制造商克服了制造的难题后（例如英制0201），对小型器件电参数的准确评估仍是巨大的挑战，这当中包括测试选用的方法和使用的算法模型，准确的将夹具去嵌，器件能否准确放置，测试是不是具备良好的重复性这些因素都将对最终的测试结果产生影响。

和创科技帮助客户实现从英制0201至1206器件的测试，最高频率可达50GHz，帮助客户实现高频SMD无源器件的准确表征，我们通过验证国外的一些标准器件，通过测量得到了其准确的电参数（Ls、CP、D、Q、Z等），得到了良好的重复性验证，实现了该类器件电参数的准确评估。

和创科技提供以下两种手动测量方案帮助客户实现高频下SMD器件的精确表征：

 SCF-540

适用0805、1206两种尺寸的器件，最高频率10GHz，通过一个下压装置，将DUT按压至夹具电极处，通过和创的SCS-700测试软件对夹具去嵌入后，并通过其算法模型求解出元件的相关参数

SCF-740

 适用0201至1206共6种规格的器件测试，最高频率40GHz，通过和创科技独有的夹具将DUT准确放置到测试区，通过和创的SCS-700测试软件对夹具去嵌入后，通过算法模型求解出元件的相关参数（Ls、CP、D、Q、Z等）。

Keysight VNA、SCF-740、SCS-700测量软件组成的测试系统如下图所示