Delta-L PCB损耗测试方案
Delta-L PCB损耗测试方案
Delta-L PCB损耗测试方案
Delta-L PCB损耗测试方案
Delta-L PCB损耗测试方案

Delta-L 是由Intel提出的一种损耗测试方法,已经在PCB损耗测试领域广泛应用,系统由矢量网络分析仪,delta-l探头,智能化软件组成三部分组成。整个测试系统可完成快速而精确的损耗测试。测试软件不仅可直观显示具体频点的数据,还可以生成图表,直观展示测试结果。

整个测试系统专为工厂PCB的大规模测试而设计,通过专用delta-l探头能快速定位PCB板的定位孔,使得测试速度得到大幅度提升,同时也能达到非常好的精度。

  • 产品特点
  • 主要参数

● 测试频率高

● 测试精度高

●  测试速度快

● 导入S参数即可计算

● 易用的软件界面


测试频率:10MHz~40GHz

测试分辨率:0.001dB

测试重复性:±0.005dB

测试线长:大于2inch

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