分离式介质谐振器法SPDR
分离式介质谐振器法SPDR
分离式介质谐振器法SPDR
分离式介质谐振器法SPDR

分离式介电谐振器 (SPDR) 提供精确的技术,可在 1.1GHz 到 15 GHz 频率范围内的单一频率点上测量介电和铁氧体基片及薄膜复杂的介电常数。除了 SPDR 夹具,执行测量还需要使用 ENA或PNA等矢量网络分析仪和软件包MTS-2000,该测量是自动执行,轻松易操作。

SPDR 测量技术是谐振法之一。谐振法使用单一频率,谐振器和腔体提供最高精度来测量实际介电常数,并可测量其他技术无法测量的损耗极低的材料。应在离散频率点执行足够的测量,因为无损材料几乎是非分散的。这说明它们的介电常数和损耗正切值将在频率范围保持不变。SPDR 的结构使用了最新的低损耗介电材料,使其能够建立具有更高 Q 因数且热稳定性优于传统全金属腔体的谐振器。

  • 产品特点
  • 主要参数


l较之传输反射法具有出色精度

l能够测量低损耗材料 (传输反射技术无法材料损耗较低的材料)

l可对基片、印刷电路板和薄膜进行方便、快速的无损测量

l支持高低温测量


频率范围:1.1/2.5/5/10/15 GHz

测量参数:Dk(εr):1~200、εr ”、

Df(tanδε):0.0001~0.05

测量精度:Dk(εr):±3%

Df(tanδε):±5%

温度范围:-75~110℃



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